MICROSCOPIA ELETRÔNICA DE TRANSMISSÃO COMO UMA FONTE DE DADOS REALÍSTICOS PARA SIMULAÇÕES MICROMAGNÉTICAS DE NANOFIOS
O microscópio eletrônico de transmissão (TEM) usa um feixe de elétrons que ao atravessar com uma amostra fina sofre espalhamentos que dependem das características do material. Isto possibilita a aquisição de imagens com resolução muito superior às obtidas com microscópios ópticos, tornando possível a observação de estruturas muito pequenas como uma coluna de átomos. Neste colóquio, será mostrado como o TEM foi utilizado para o estudo do comportamento magnético de arranjos de nanofios ferromagnéticos de níquel. Estes arranjos têm sido o objeto de estudo de diversos grupos de pesquisa devido ao seu elevado potencial em aplicações tecnológicas que vão desde o desenvolvimento de memórias com grande capacidade de armazenamento, à sensores de alta performance. O TEM se mostrou uma técnica inovadora para o estudo do formato real das nanoestruturas e foi explorado em diferentes modos de operação (HRTEM, weak beam, Contraste em Massa e por Difração etc.). As informações extraídas da análise das imagens serviram de ponto de partida para que se chegasse à formulação final do nosso modelo de estrutura para os nanofios individuais. Nesta palestra, apresentamos a hipótese de que estes elementos são compostos por uma cadeia não uniaxial de grãos com formatos cuboctaedros, em contraponto às sugestões de estruturas encontradas na literatura, que vão de cilindros monocristalinos à cadeias de elipsóides.
Claudio Abreu de França é licenciado em Física e Doutor em Ciência de Materiais pela UFPE e pesquisa na área de materiais com ênfase em nanofios utilizando a técnica de microscopia eletrônica de transmissão.
Local: Escola Politécnica de Pernambuco, Sala k4 da POLI
03 de dezembro de 2019, 16 h
Entrada livre para estudantes e visitantes.
Universidade de Pernambuco
Escola Politécnica de Pernambuco
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